匯控柜溫濕度模擬試驗(yàn)系統(tǒng)開(kāi)發(fā)及應(yīng)用
孫慶峰1，沈佳2，湯義勤3，周平4，魏燕定2
（1 杭州意能電力技術(shù)有限公司，浙江 杭州 310014；2 浙江大學(xué) 機(jī)械工程學(xué)院，浙江 杭州 310063；
3 國(guó)網(wǎng)浙江省電力有限公司臺(tái)州供電公司，浙江 臺(tái)州 318000；4 國(guó)網(wǎng)浙江省電力有限公司湖州供電公司，浙江 湖州 313000）
摘 要：半導(dǎo)體冷凝除濕近年來(lái)逐漸被應(yīng)用于變電站的匯控柜除濕當(dāng)中，搭建了一套模擬匯控柜內(nèi)的溫濕度環(huán)境的試驗(yàn)系統(tǒng)，通過(guò)PLC控制柜內(nèi)給定的溫度和濕度，將半導(dǎo)體冷凝除濕裝置放入模擬柜內(nèi)除濕，研究在不同的柜內(nèi)溫度和相同絕對(duì)濕度情況下的除濕效果。結(jié)果顯示在25 ～ 45 ℃溫度范圍內(nèi)，溫度越高半導(dǎo)體冷凝除濕的效果越差，在40 ℃以上時(shí)長(zhǎng)期開(kāi)啟冷凝除濕并不能達(dá)到理想的除濕效果。
關(guān)鍵詞：半導(dǎo)體冷凝；匯控柜；除濕效果
中圖分類(lèi)號(hào)：TM643 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1007-3175(2019)03-0059-05
Development and Application of Temperature and Humidity Simulation Test System for Control Cabinet
SUN Qing-feng1, SHEN Jia2, TANG Yi-qin3, ZHOU Ping4, WEI Yan-ding2
（1 E. Energy Technology Co., Ltd, Hangzhou 310014, China;
2 School of Mechanical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou 310063, China;
3 Taizhou Electric Power Bureau of State Grid Zhejiang Electric Power Co., Ltd, Taizhou 318000, China;
4 Huzhou Electric Power Bureau of State Grid Zhejiang Electric Power Co., Ltd, Huzhou 313000, China）
Abstract: Semiconductor condensation dehumidification has recently been gradually applied to the dehumidification for the control cabinet of the substation in recent years. A set of testing system was established to simulate the temperature and humidity environment of control cabinet and the semiconductor refrigeration dehumidification device was placed in the simulation cabinet for dehumidification. This paper studied on the dehumidification effect under different cabinet temperatures with the same absolute humidity. The results show that in the temperature range of 25~45 ℃, the higher the temperature, the worse the effect of semiconductor condensation and dehumidification and the long-term opening condensation and dehumidification above 40 ℃ can’t achieve the desired dehumidification effect.
Key words: semiconductor condensation; control cabinet; Dehumidification effect
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