斷口沖擊聯(lián)合電壓試驗(yàn)中工頻側(cè)電壓跌落問題研究
李華良1，孫敏2，尚迪1，趙磊1，吉小振1
（1中國啟源工程設(shè)計(jì)院研究院有限公司，陜西 西安 710018；2 西安交通大學(xué) 電氣工程學(xué)院，陜西 西安 710049）
摘 要：開關(guān)設(shè)備斷口的聯(lián)合電壓試驗(yàn)是其重點(diǎn)絕緣型式試驗(yàn)項(xiàng)目。在進(jìn)行沖擊+工頻聯(lián)合電壓試驗(yàn)中，由于兩個(gè)高壓電源回路間存在電容耦合，試驗(yàn)時(shí)沖擊電壓會(huì)引起工頻側(cè)電壓跌落，需要采取適當(dāng)?shù)牡溲a(bǔ)償措施。討論了聯(lián)合電壓試驗(yàn)中反向工頻電壓峰值系數(shù)的取值問題。以某1 100 kV GIS型隔離開關(guān)的雷電沖擊聯(lián)合電壓試驗(yàn)（LIWV+AC）為例，通過實(shí)際試驗(yàn)結(jié)合等效電路計(jì)算分析和ATP-EMTP仿真，重點(diǎn)研究了試品斷口電容、附加電容等參數(shù)對(duì)工頻側(cè)電壓跌落的影響，給出了合理的試驗(yàn)方法，并對(duì)實(shí)際試驗(yàn)中應(yīng)當(dāng)注意的問題進(jìn)行了總結(jié)。
關(guān)鍵詞：開關(guān)斷口；電壓跌落；電容耦合；聯(lián)合電壓試驗(yàn)
中圖分類號(hào)：TM56 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1007-3175(2020)05-0047-05
Study on the Voltage Drop of Power Frequency Side in the Combined Voltage Test of Breaker Impact
LI Hua-liang1, SUN Min2, SHANG Di1, ZHAO Lei1, JI Xiao-zhen1
（1 China Qiyuan Engineering Corporation, Xi'an 710018, China;
2 College of Electrical Engineering, Xi'an Jiaotong University, Xi'an 710049, China）
Abstract: The combined voltage test is one of the most important dielectric type tests of switchgear breaker.During the impulse plus power frequency combined voltage test, due to the capacitance coupling between the two high-voltage power supply circuits, the impulse voltage will cause a voltage drop at power frequency side during the test, and appropriate voltage drop compensation measures should be taken. This paper briefly discusses the value of peak coefficient of reverse power frequency voltage in combined voltage test.Taking the lightning impulse combined voltage test (LIWV+AC) of a 1 100 kV GIS type disconnector as an example, through the actual test combined with the equivalent circuit calculation and ATP-EMTP simulation, the influence of capacitance across the open switching device and the additional capacitance on power transformer side voltage drop is mainly studied, and the reasonable test method is given.Finally, the problems that should be noted in the actual test are summarized.
Key words: across the open switching device; voltage dorp; capacitance coupling; combined voltage test
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